陽電子消滅による格子欠陥の研究
電子ビーム励起による半導体中の欠陥の研究
陽電子消滅2光子角相関法による絶縁性結晶中のポジトロニウムの研究
シリコン結晶中の微小欠陥とその評価に関する研究
光散乱トモグラフ法による結晶格子欠陥の検出と同定
非破壊試験によるコンクリートの欠陥評価法に関する研究
誘電体格子による光波の散乱・導波問題に関する研究
シリコン結晶における微小格子歪のX線トポグラフィによる研究
光格子中の原子のダイナミクスに関する研究
原子炉システムによるマイナーアクチニドの高速燃焼消滅処理の研究
格子乱流と円柱の干渉に関する研究
高密度実装プリント板における精密欠陥検査技術の研究
孔子研究
特異積分方程式による平板回折格子の数値解析に関する研究
シリコンPINダイオードによる診断用X線スペクトルの研究
変分モンテカルロ法による強相関電子系の研究
電子ビームによるマイクロパターンの測定に関する研究
非線形分光法によるシリコン高分子の一次元励起子に関する研究
中性子照射した面心立方金属の損傷欠陥発達過程の研究
正逆光電子分光によるウラン化合物の電子状態の研究
欠陥を有する溶接接合部の破壊に対する安全性の評価に関する研究
誘電体結晶の相転移におよぼす構造欠陥と微量不純物効果の熱力学的研究
([3]He,n)反応による[42,44,46]Ti核の二陽子状態の研究
シリコン陽極酸化膜の成長挙動に関する研究
最終更新日:
登録日: 2020-12-17