超高真空下における半導体界面構造の形成と薄膜成長に対する顕微鏡的評価
表面X線回折法によるシリコン表面の構造解析
化合物半導体薄膜の結晶成長と光学的・電気的特性に関する研究
収束電子回折法による結晶構造解析法の研究
反射型小角X線散乱法による積層薄膜の構造解析
直衝突イオン散乱分光による半導体表面構造とその動的変化の解析
電子顕微鏡法およびX線回折法を用いたマルテンサイトの構造解析
分光偏光解析による3d金属薄膜の成長過程と界面の研究
光変調反射分光法による半導体歪ヘテロ構造に関する研究
全反射減衰法による超薄膜の構造評価と機能に関する研究
分子線エピタキシーによる化合物半導体ヘテロ接合の構造制御に関する研究 : As系化合物半導体量子ドットの作製とデバイス応用、ならびにTe系化合物半導体ヘテロ接合の作製と特性評価
分子線エピタキシー法によるBi系超伝導薄膜の成長機構の解明と制御
高分解能電子顕微鏡法による半導体界面の微細構造解析に関する研究
斜入射X線回折法による気液界面単分子膜エイコサン酸カドミウム石鹸構造の決定
走査トンネル顕微鏡法によるα-Sn/InSb{111}A,B-(2×2)系における構造・電子状態および初期成長過程の評価
Ⅲ-Ⅴ族化合物半導体薄膜中の希土類原子に関する低温電子スピン共鳴測定による研究
有機金属化合物薄膜の光化学分類による酸化物超微細構造の形成に関する研究
有機金属気相成長法によるAlGaAs/GaAs極薄膜ヘテロ構造の作製と評価
最終更新日:
登録日: 2020-12-17